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艾思荔微電子hast老化試驗(yàn)箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST、現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC所標(biāo)準(zhǔn)化。 注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))。

微電子hast老化試驗(yàn)箱裝置：

1、鍋內(nèi)裝置：鍋門(mén)若未關(guān)緊則機(jī)器無(wú)法啟動(dòng)。

2、閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力過(guò)大工作值自動(dòng)排氣泄壓。

3、雙重過(guò)熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過(guò)高時(shí)，機(jī)器嗚叫警

4、報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。

5、門(mén)蓋保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸。

微電子hast老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)：

1.試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

2.用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的塬因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

3.隨著半導(dǎo)體性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，採(cǎi)用了新的壓力試驗(yàn)方法。

微電子hast老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

1、具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)。

2、試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束，使用簡(jiǎn)便。

3、溫度控制：LED數(shù)字型溫度控制器可作試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示。

4、計(jì)時(shí)器：LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度到達(dá)後才開(kāi)始計(jì)時(shí)以確保試驗(yàn)。

5、的壓力／溫度表隨時(shí)顯示鍋內(nèi)壓力與相對(duì)溫度。

6、運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)流水器自動(dòng)排出未飽和蒸氣以達(dá)到佳蒸氣品質(zhì)。

7、一體成型矽膠門(mén)墊圈，氣密度良好，且使用壽命長(zhǎng)。

8、試驗(yàn)箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久美觀不沾污。

微電子hast老化試驗(yàn)箱簡(jiǎn)介：

   微電子hast老化試驗(yàn)箱艾思荔檢測(cè)儀器是模擬檢測(cè)設(shè)備的企業(yè)，生產(chǎn)歷史長(zhǎng)、技術(shù)精。為國(guó)內(nèi)多家測(cè)試設(shè)備廠所配套使用,建廠三十余年,備受。